准确定位与扫描:纳米位移台探针
纳米位移台探针通常指的是用于扫描探测物体表面形貌、化学成分等信息的微型探头。在扫描探测过程中,探针与样品表面之间会存在一定的作用力,探针的形状、尺寸和材料都会对探测结果产生影响。常用的探针包括原子力显微镜(AFM)探针、扫描电子显微镜(SEM)探针等。
纳米位移台使用探针可以获得高分辨率的表面形态和性质信息,因此被广泛应用于材料科学、生物医学、纳米技术等领域的研究和应用中。例如,在材料科学领域,可以使用纳米位移台探针来研究材料的表面结构、形貌、力学和电学性质;在生物医学领域,可以使用纳米位移台探针来研究细胞、蛋白质和DNA的形态、力学和电学性质。
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